摘要: 用热灯丝电子辅助化学气相沉积的方法合成了金刚石膜。对所沉积的金刚石膜、天然金刚石、石墨进行了俄歇分析和特征电子能量损失分析。并与文献结果进行了比较。在俄歇谱中,所测量的能量范围内,可以看出这里有二个峰,且此二个主峰的间隔为13.2eV。在特征电子能量损失谱中,22.4eV处的峰是对应于表面等离子振荡,而33eV处的峰是相应于体内等离子振荡。分析表明所沉积的金刚石膜显示了很好的天然金刚石的化学结构。
金刚石和石墨都是由碳元素构成的,但是他们的晶体结构和原子的化学状态是完全不同的。金刚石是由C原子Sp³轨道杂化而构成的一种正四面体结构,而石墨是由Sp²轨道杂化而成的一种三角晶系,是一种平面的层状结构。这种结构上的差别意味着C原子的化学环境不同,因而其电子状态也不相同。在俄歇线型的变化下,即峰的位置,形状将会产生变化。其他包括峰的出现和消失,峰宽的变化和各峰的强度发生指出的变化等等。所以线型的变化也可作为一种“指纹”,以鉴定表面的化学状态。因为价带直接和原子的化学状态有关,故对不同结构的碳KVV价带俄歇线型的变化相当灵敏。
特征电子能量损失谱,是指当电子从固体中逸出时,所经受的特殊能量损失,这些损失主要是指由逸出电子所激发的带间跃迁和各种等离子体振荡。这些损失与含碳物质结构的关系也相当灵敏,反映了它们的能带结构的细节,而且对低原子序原子特别有效,例如对C就是这样的。